多點測量模式是最通用的測量模式之一，因為它允許您在任何條件下進行測量。它允許用戶從任何旋轉位置開始測量，并根據需要取盡可能多的點，每次都能獲得出色的測量質量。這些點可以取在任何旋轉位置，并且可以相距1度。至少需要三個測量點，并在軸周圍均勻分布，以獲得準確的結果。此測量模式是為Easy Laser XT50、XT60和XT70設計的。以下是一些示例：
①易于旋轉的機器
對于易于旋轉的機器，至少取三個間隔約120度的點，以均勻地覆蓋軸的整個旋轉。然而，獲得更多的分數總是更好的，因為它可以為系統提供更多的數據。
②難以旋轉的機器
對于非常難以旋轉的機器，旋轉軸所需的力可能會導致軸偏轉。使用多點，我們可以減輕旋轉力，讓機器在每個點上休息，從而完quan避免軸偏轉。
③非耦合測量
對于未連接的機器來說，嘗試將兩個軸一起旋轉幾乎是不可能的。使用多點，我們可以使用每個激光器/探測器單元頂部的OLED顯示器將S和M測量單元對準同一角度。這將模擬被耦合的機器，并允許我們在沒有任何困難的情況下獲得所需的盡可能多的點。
④高振動
對于周圍運行的機器或過程振動較大的環境，使用多點測量模式可以使用位于測量屏幕底部的過濾器來補償這種環境振動。濾波器值越高，可以補償的振動就越高。由于允許軸在每個測量位置停留，只要有必要就可以獲得穩定的讀數，因此消除了不準確的情況。
⑤有限旋轉
對于旋轉或激光視線有障礙的機器，多點測量模式允許您在軸旋轉40度的情況下準確測量未對準。在可供使用的小旋轉弧內取盡可能多的點，您仍將獲得可靠的錯位讀數。
